CDA in der Halbleiterfertigung
Lees wat clean dry air in wafer fabs is, welke ISO 8573-eisen en dauwpunten gelden en hoe u CDA-kwaliteit technisch borg…
UPW-Spezifikationen für Halbleiter im Reinraum
Lees welke UPW-specificaties in semiconductor cleanrooms tellen en hoe waterkwaliteit, distributie en ontwerp elkaar beï…
Energieverbrauch im Reinraum
Der Energieverbrauch eines Reinraums ist in der Regel deutlich höher als der eines herkömmlichen Produktions- oder Labor…
Reinraumvalidierung nach ISO 14644-2
Die Reinraumvalidierung ist der dokumentierte Nachweis, dass ein Reinraum nicht nur bei der Abnahme, sondern dauerhaft d…
Reinraumschulung
Eine Reinraumschulung qualifiziert Mitarbeitende dafür, Verhalten, Bekleidung, Materialfluss, Reinigung und Prozessrouti…
FAT und SAT bei der Reinraumabnahme
FAT und SAT sind bei der Reinraumabnahme die zwei entscheidenden Sicherungen vor der Freigabe: zuerst die Werksabnahme v…
Temperaturstabilität in der Wafer-Metrologie
Schon sehr kleine Temperaturschwankungen können in der Wafer-Metrologie messbar werden. Wenn sich Wafer, Präzisionsbühne…
Cleanroom audit: eisen, voorbereiding en checklist
Een cleanroom audit laat zien of uw gecontroleerde omgeving niet alleen goed is ontworpen, maar ook aantoonbaar beheerst…
ESD in cleanrooms voorkomen: risico’s en aanpak
Elektrostatische ontlading kan in een cleanroom ongemerkt schade veroorzaken aan gevoelige componenten, wafers, medische…