CDA in semiconductorproductie: eisen en borging
Lees wat clean dry air in wafer fabs is, welke ISO 8573-eisen en dauwpunten gelden en hoe u CDA-kwaliteit technisch borg…
UPW-specificaties voor semiconductor cleanrooms
Lees welke UPW-specificaties in semiconductor cleanrooms tellen en hoe waterkwaliteit, distributie en ontwerp elkaar beï…
Cleanroom energieverbruik: oorzaken en besparen
Het energieverbruik van een cleanroom ligt meestal duidelijk hoger dan dat van een reguliere productie- of laboratoriumr…
Cleanroomvalidatie volgens ISO 14644-2 uitgelegd
Cleanroomvalidatie is het gedocumenteerde bewijs dat een cleanroom niet alleen bij oplevering, maar blijvend presteert v…
Cleanroom training voor operators
In een cleanroom is de mens zelf vaak de grootste vervuilingsbron. Juist daarom is training nodig voordat operators zelf…
FAT en SAT bij cleanroom oplevering uitgelegd
FAT en SAT zijn twee vaste acceptatiemomenten bij de oplevering van een cleanroom. Eerst controleert u in de fabriek of…
Temperatuurstabiliteit in wafer metrologie uitgelegd
In wafer metrologie binnen projecten in de semiconductorindustrie kan een ogenschijnlijk kleine temperatuurschommeling a…
Cleanroom audit: eisen, voorbereiding en checklist
Een cleanroom audit laat zien of uw gecontroleerde omgeving niet alleen goed is ontworpen, maar ook aantoonbaar beheerst…
ESD in cleanrooms voorkomen: risico’s en aanpak
Elektrostatische ontlading kan in een cleanroom ongemerkt schade veroorzaken aan gevoelige componenten, wafers, medische…